Schichtdickenmessung im industriellen Umfeld mit Terahertz

Das Fraunhofer-Institut für Techno- und Wirtschaftsmathematik ITWM, Kaiserslautern, hat ein Schichtdickenmessgerät entwickelt, mit dem berührungslos und zerstörungsfrei Schichtdicken im industriellen Umfeld gemessen werden können. Schwerpunkt liegt auf der Dickenmessung einzelner Schichten innerhalb eines Mehrschichtsystems. Die Beschichtung kann hierbei auf beliebigem Material aufgetragen sein. Die Dickenmessung kann auch an feuchten, klebrigen und weichen Beschichtungen und an gekrümmten Oberflächen erfolgen.

Eingesetzt wird ein Kurzpuls-Terahertz-System. Analog zur Ultraschallmessung werden hier kurze Terahertz-Lichtpulse auf die Probe geschickt, mit dem Unterschied, dass die Terahertz-Messungen ohne Koppelmedium auskommen und somit berührungslos sind. An jeder Grenz-fläche wird ein Teil des Lichts reflektiert. Die reflektierten Signale werden von Terahertz-Empfänger zeitaufgelöst registriert. Diese zeitaufgelösten Echosignale enthalten die Tiefeninformationen der Probe, woraus die Schichtdicken bestimmt werden können.

Adressiert werden vornehmlich Hersteller von Automobilen, Flugzeugen und Schiffen. Hier kann das Messsystem in der Endkontrolle des Lackierprozesses zur Qualitätskontrolle eingesetzt werden. Wegen der großen Wellenlänge der Terahertz-Wellen ist es ebenso möglich, das Gerät während des Lackierprozesses zur Online/Inline-Kontrolle einzusetzen, da die Terahertz-Wellen den Sprühnebel fast ungehindert durchdringen.

Kontakt: Regina Fischer, Fraunhofer-Allianz Vision
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